簡述下ADSS光纜大衰耗點產(chǎn)生的幾種原因
瀏覽次數(shù)：1569發(fā)布日期：2019-12-27
ADSS光纜是為了滿足光學(xué)、機械或環(huán)境的性能規(guī)范而制造的，它是利用置于包覆護(hù)套中的一根或多根光纖作為傳輸媒質(zhì)并可以單獨或成組使用的通信線纜組件。ADSS光纜主要是由光導(dǎo)纖維(細(xì)如頭發(fā)的玻璃絲)和塑料保護(hù)套管及塑料外皮構(gòu)成，光纜內(nèi)沒有金、銀、銅鋁等金屬，一般無回收價值。光纜是一定數(shù)量的光纖按照一定方式組成纜心，外包有護(hù)套，有的還包覆外護(hù)層，用以實現(xiàn)光信號傳輸?shù)囊环N通信線路。即：由光纖(光傳輸載體)經(jīng)過一定的工藝而形成的線纜。光纜的基本結(jié)構(gòu)一般是由纜芯、加強鋼絲、填充物和護(hù)套等幾部分組成，另外根據(jù)需要還有防水層、緩沖層、絕緣金屬
ADSS光纜大衰耗點產(chǎn)生的幾種現(xiàn)象和原因
1、敷設(shè)時產(chǎn)生的大衰耗點
在光纜施工中，由于光纜敷設(shè)長度一般在2～3KM直埋敷設(shè)時，穿越的障礙物較多，在施工中，敷設(shè)人員較多，敷設(shè)距離較遠(yuǎn)，難以保證所有敷設(shè)人員協(xié)調(diào)行動，特別是通過障礙物較多時，如：穿越防護(hù)鋼管，拐彎、上下坡等，從而出現(xiàn)俗稱的光纜打背扣(出現(xiàn)死彎)現(xiàn)象，對光纜造成嚴(yán)重傷害，一旦發(fā)生死彎現(xiàn)象，此處必然會出現(xiàn)一個大衰耗點，嚴(yán)重的會發(fā)生部分或全部光纖斷裂現(xiàn)象，這是光纜施工中容易出現(xiàn)的故障現(xiàn)象。此外，在敷設(shè)光纜時，光纜端頭的光纜Z容易受到損傷，在接續(xù)時，往往在接續(xù)點處顯示有較大衰耗值，此時，即使多次重復(fù)熔接，也不能降低接續(xù)損耗值，從而形成一個較大的衰耗點。
2、接續(xù)過程中產(chǎn)生的大衰耗點
在光纜接續(xù)過程中，產(chǎn)生大衰耗點是經(jīng)常發(fā)生的，我們一般用OTDR(光時域反射儀)進(jìn)行監(jiān)測，即每熔接一根光纖，都用OTDR測試一下熔接點的衰耗值，具體測試時，采用雙向監(jiān)測法，由于光纖制造過程中存在的差異性，兩根光纖不可能*一致，總是存在模場直徑不一致現(xiàn)象，從而導(dǎo)致了用OTDR所測的損耗值并不是接續(xù)點的實際損耗值，其數(shù)值有正有負(fù)，一般用雙向測試值的算術(shù)平均值作為實際衰耗值。在接續(xù)時，一般用實時監(jiān)測法，基本能保證熔接損耗達(dá)到控制目標(biāo)，但經(jīng)常產(chǎn)生大損耗點的原因是在熔接完畢后進(jìn)行光纖收容時，部分光纖受壓或彎曲半徑過小，即形成一個大衰耗點。因為1550nm波長的光纖對微彎損耗非常敏感，光纖一旦受壓，即產(chǎn)生一個微彎點，或盤纖時，彎曲半徑過小，光纖信號在此處也產(chǎn)生較大的衰耗，表現(xiàn)在光纖后向散射曲線上，就形成了一個較大的衰耗臺階；另外，一個比較容易忽視的原因是光纜接頭盒組裝完成后，固定接頭盒和固定光纜時，由于光纜在接頭盒內(nèi)固定的不是很牢固，造成光纜擰轉(zhuǎn)，使光纖束管變形，由于光纖受壓，造成光纖衰耗值急劇增加，形成衰耗臺階。
3、運輸和裝卸造成的大衰耗點
在ADSS光纜運輸?shù)绞┕がF(xiàn)場時，由于現(xiàn)場環(huán)境比較惡劣，特別是敷設(shè)鐵路通信光纜時，吊車往往無法到達(dá)施工現(xiàn)場，此時，常常是通過人力裝卸光纜，在光纜卸下的過程中，外層光纜經(jīng)常受到損傷，原因是光纜盤直徑過小，導(dǎo)致外層光纜離地面距離過近，由于現(xiàn)場地面土質(zhì)軟硬不一，崎嶇不平，在滾動光纜盤的過程中，光纜盤陷入地面，導(dǎo)致外層光纜被地面硬物硌壞，主要原因是部分廠家為降低生產(chǎn)成本，采用較小的光纜盤。此外，光纜盤未用木板進(jìn)行包封(有些是鐵架光纜盤，無法用木板進(jìn)行包封)，而僅用塑料布在光纜外層進(jìn)行包裹，或者是單盤測試后，光纜盤包封未恢復(fù)，起不到應(yīng)有的防護(hù)作用，當(dāng)光纜外層被石頭等硬物硌傷后，光纖在束管中受壓，即產(chǎn)生一個衰耗臺階，表現(xiàn)在光纖后向散射曲線上，就形成一個較大的衰耗點。
4、成端過程中產(chǎn)生的大衰耗點
在ADSS光纜成端過程中，也經(jīng)常會產(chǎn)生大衰耗點。在成端時，由于一般不進(jìn)行熔接損耗監(jiān)測，僅憑經(jīng)驗操作，因此，產(chǎn)生大衰耗點的幾率也大增。此外，在光纖熔接后安裝收容盤時，往往造成收容盤附近的光纖束管彎曲半徑過小或造成光纖束管擰轉(zhuǎn)變形，使光纖在此處產(chǎn)生一個較大的衰耗點，此類大衰耗點一般比較隱蔽，不像線路中間的大衰耗點用OTDR可以直接測出。
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